EDX Serisi X Floresans Spektrometreleri，Enerji dağılımıXIşın fluoresans spektrometriUygulamak içinRoHS & WEEEkomut analiziÇeşitli metal film kalınlığı ölçümleri, endüstriyel kaplama kalınlığı ölçümleri, halojen talimatlarıClElement AnaliziMadenler, hammadde bileşen analizi, manyetik manyetik ortamlar ve yarı iletkenler ve çeşitli birleşmelerAltın ve Değerli Metaller Bileşimi Analizi.
EDX Serisi X Floresans SpektrometreleriAna Özellikler
●Analiz Element AralığıS-U

●Analiz elemanlarının konsantrasyon aralığı 2ppm—100%
●Tüm makinenin istikrarı sürekli8Saat ölçümüRSD<0.25%
● ROHS/WEEETespit Zamanı100-120saniye

●ABD İthalat Elektrik SoğutmaSi（Pin）Detektörler

●Elektrikli soğutmaSi（Pin）Detektör Kristal Alanı15mm2Çözünürlük<155eV
●Tam dijital darbe işlemci teknolojisi

●Mükemmel zirve geri oranı, son derece yüksek iz analizi hassasiyeti

● 50KV,50WKendini korumaX-ışın tüpü

●Kompozit Filtre Akıllı Anahtarlama Teknolojisi

Özellikleri:

☆Klor ve boyalardaki kurşun analizi

☆EntegreFPYasa,AlphaKatıyı yöntemi, Deneyim Katıyı yöntemi

☆Güvenli bağlantı cihazı, yumuşak ve sert radyasyon tasarımı

☆Kolay, tek tıklama kullanımı

☆Akıllı yazılım otomatik parametre ayarı ve filtre seçimi

☆XIşın borusu aşırı sıcaklık koruması

☆Elektronik soğutma, sıvı azot ve diğer tüketim malzemeleri gerektirmez

Teknik Özellikler