VIP üyesi
70nm ultra yüksek çözünürlüklü kalibrasyon örnekleri (AFM, SEM, Auger ve FIB için)
70nm ultra yüksek çözünürlüklü kalibrasyon örnekleri (AFM, SEM, Auger ve FIB için)
Ürüntü detayları
Çizgili70 nm'likAralık, tek boyutlu düzenleme, ± doğruluğu0.25nm'ninSertifikası ve sertifikası olmayan iki kategori. Sertifikalı boşluk, sertifikadaki gerçek sayılara başvurmak gerekir. Ultra yüksek çözünürlüklü mikroskoplar için hassas holografik çizgiler (25kx-1000kx arasındaYatay yönünün doğru kalibrasyonu ve nano ölçekte aletlerin doğru kalibrasyonu vb. Yüksek istikrarlı ve yüksek uygulanabilirlik özelliklerine sahiptir.
Silikon Boyutu:4×3×0.5mm'lik, desen silikon dioksit üretimi (omurga genişliği)35nm'likYüksek.35nm'likBu parametre kalibre edilmemiştir.)
İki tür ürün mevcuttur:Model 70-1DveModel 70-1DUTCİçinden.Model 70-1DKalibrasyon Örnekleri,Üretici sertifikası ile,izlenmeyen kaynaklar;Model 70-1DUTCKalibrasyon Örnekleri,Sertifikalı,İzlenebilir Kaynak,Sertifika Verilmesi (PTB, NIST'nin Alman bir meslektaşıve).
Sipariş Bilgileri:
|
Ürün numarası |
Ürün Adı |
Özellikler |
|
80127-1D'nin |
Model 70-1D, Kalibrasyon standartı, Montaj edilmemiş |
Bir |
|
80127-1D-X için |
Aynı şekilde, tırnaklı örnek masası sağlanabilir; Ya da özelAFM'ninve (15 mm'likPaslanmaz çelikdisk）； Veya örnek masasını belirtin |
Bir |
|
80127-1DC'nin |
Model 70-1DUTCsertifikaları ile,Çıkarılmış |
Bir |
|
80127-1DC-X için |
Aynı şekilde, tırnaklı örnek masası sağlanabilir; Ya da özelAFM'ninve (15 mm'likPaslanmaz çelikdisk）； Veya örnek masasını belirtin |
Bir |
Çevrimiçi soruşturma
-
Kontaktlar
-
Şirketi
-
Telefon
-
E-posta
-
WeChat
-
Kontrol Kodu
-
Mesaj İçindeki
-